GCSTD-A

        表面电阻率各种综合软件检测设备及材质损耗费各种综合软件检测设备

介电常数及介质损耗测试仪应用介绍

一、 概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据.
仪器的技术指标
   1．Q值测量
   a．Q值测量范围：2～1023。
   b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至*低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为**。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

表面电阻率及物质损耗率测评仪应用讲解 1．Q值检测    a．Q值测量方法範圍：2～1023。    b．Q值示值分档：30、100、300、1000、重新换档或手动式换档。 2．电感估测标准：14.5nH~8.14H

3．电阻侧量：1~ 460

 5．Q符合标准标示预置性能       预置面积：5～1000。    6．Q表正确任务情况    a.  条件温度表：0℃～+40℃；    b．相对来说空气湿度：<80％；    c．电：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．任何      a．浪费效率：约25W；    b．总重量：约7kg；    c. 外形寸尺：（l×b×h）mm：380×132×280。

   8．食品安装：

a.软件测试主机结构一种；

b.电感9只；

c.卡具几套

   9、印刷品长宽高：外径为Φ50mm/Φ38mm/100MM  薄厚为0.5-15MM

介电常数及介质损耗测试仪应用介绍